По сообщениям СМИ, Министерство энергетики США (DOE) недавно опубликовало свой третий отчет о надежности светодиодных приводов, основанный на долгосрочных ускоренных испытаниях на срок службы. Исследователи из отдела твердотельного освещения (SSL) Министерства энергетики США полагают, что последние результаты подтверждают, что метод ускоренного стресс-тестирования (AST) показал хорошие результаты в различных суровых условиях. Кроме того, результаты испытаний и измеренные факторы отказов могут информировать разработчиков драйверов о соответствующих стратегиях для дальнейшего повышения надежности.
Как известно, драйверы светодиодов, как и сами светодиодные компоненты, имеют решающее значение для оптимального качества света. Подходящая конструкция драйвера позволяет устранить мерцание и обеспечить равномерное освещение. Кроме того, драйвер является наиболее вероятным компонентом светодиодных фонарей или осветительных приборов, который выходит из строя. Осознав важность драйверов, Министерство энергетики в 2017 году начало долгосрочный проект по тестированию драйверов. Этот проект включает в себя одноканальные и многоканальные драйверы, которые можно использовать для крепления таких устройств, как потолочные пазы.
Министерство энергетики США ранее опубликовало два отчета о процессе и ходе испытаний, а теперь публикуется третий отчет с данными испытаний, который охватывает результаты испытаний продукта, работающего в условиях AST в течение 6000-7500 часов.
Фактически, у отрасли не так много времени для тестирования приводов в нормальных рабочих условиях в течение многих лет. Напротив, Министерство энергетики США и его подрядчик RTI International протестировали привод в так называемой среде 7575 — с постоянной влажностью и температурой в помещении на уровне 75 °C. Этот тест включает в себя два этапа тестирования драйверов, независимо от канал. Однокаскадная конструкция стоит дешевле, но в ней отсутствует отдельная схема, которая сначала преобразует переменный ток в постоянный, а затем регулирует ток, что уникально для двухкаскадной конструкции.

В отчете Министерства энергетики США говорится, что в ходе испытаний, проведенных на 11 различных дисках, все диски проработали 1000 часов в среде 7575. Когда привод расположен в помещении, светодиодная нагрузка, подключенная к приводу, находится в условиях внешней среды, поэтому среда AST влияет только на привод. Министерство энергетики не связало время работы в условиях AST со временем работы в нормальных условиях. Первая партия устройств вышла из строя после работы в течение 1250 часов, хотя некоторые устройства все еще находятся в эксплуатации. После тестирования в течение 4800 часов 64% устройств вышли из строя. Тем не менее, учитывая суровые условия тестирования, эти результаты уже очень хорошие.
Исследователи обнаружили, что большинство неисправностей возникает на первой ступени драйвера, особенно в схемах коррекции коэффициента мощности (PFC) и подавления электромагнитных помех (EMI). В обоих каскадах драйвера МОП-транзисторы также имеют неисправности. Помимо указания таких областей, как PFC и MOSFET, которые могут улучшить конструкцию драйвера, этот AST также указывает, что неисправности обычно можно предсказать на основе мониторинга производительности драйвера. Например, мониторинг коэффициента мощности и импульсного тока позволяет заранее обнаружить неисправности на ранней стадии. Увеличение мигания также указывает на близость неисправности.
В течение длительного времени программа SSL Министерства энергетики США проводила важные испытания и исследования в области SSL, включая тестирование продуктов сценариев приложений в рамках проекта Gateway и тестирование производительности коммерческих продуктов в рамках проекта Caliper.